南京集成电路仪器设备共享平台

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创智大厦芯片测试实验室:建模及模型提取、1/f噪声、射频(RF)噪声、射频微波在片测试等;

创智大厦共享实验室是南京集成电路产业服务中心(ICisC)芯片测试实验室,实验室主要用于集成在片参数提取及测试;

满足以下测试需求:
• 器件建模 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV / ESD / 1/f
• 射频、毫米波、负载牵引
• -60 至 300 ℃集成电路设计验证、失效分析
• 可靠性测试
•晶圆及芯片存储